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X射线线阵探测器-iLX 系列
iLX系列为高性能4级TDI CMOS 线阵探测器,比传统单线光电二极管技术,有更高的信噪比以及更高的分辨率,广泛应用于科学研究及工业X射线扫描检测。通过千兆以太网接口实现高速实时图像传输,探测器具有高灵敏度、高帧率、高分辨率等特点,同时采用独特的像素设计,具有极高的抗辐照能力。
特点:
· 0.2mm/0.4mm像素大小
· 14bit数据传输
· 最高速可达2.4m/s
· 在低剂量下仍具有极高的信噪比
· 杰出的抗辐照能力
应用:
PCB检测
电池检测
无损检测
矿选
食品检测
详细参数
参数 参数值
型号 iLX410K6-02G1 iLX614K6-02G1 iLX410K6-04G1 iLX614K6-04G1
X射线能量范围 25~450 kV
闪烁体类型 GOS
有效感光区域长度(其他长度可定制) 410mm 614mm 410mm 614mm
像素大小 0.2 × 0.2mm 0.4 × 0.4mm
横向像素数量 2048 3072 1024 1536
最大TDI级数 4 2
最大扫描速度 12m/s 2.4m/s
最小积分时间 100us
最大积分时间 100ms
A/D转换器 14 bit
动态范围 > 4000
接口 千兆以太网
触发模式 外触发/内触发
工作电压 24VDC
功耗 8W 12W 8W 12W
工作温度 0-40 ℃
储存温度 -10-50℃
储存湿度 30%-80%
量子效率曲线
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