请输入搜索关键词!
X射线面阵探测器-supX1512
supX1512C是二维CMOS X射线平板探测器,具有高分辨率、宽动态范围、低噪声和精细像素等优点。产品结构紧凑,技术性能优良,易于集成,能适应不同的工作环境。在全分辨率下可以提供最高20fps的数据输出。
特点:
· 48um像素大小
· 20fps动态图像输出
· 极低噪声
· 极宽动态范围
· 杰出的抗辐照性能
· 图像延迟小
· 快速的网络数据接口
应用:
医疗影像
工业无损检测
新能源锂电池检测
半导体检测
详细参数
参数 参数值 单位
感光面积 115.2 × 146 mm
像素大小 48 × 48 um
分辨率(H×V) 2400 × 3040 pixel
像素合并 1×1 / 2×2
ROI读出 中心100% / 70% / 50% MAG模式
帧率 20 fps
动态范围 74 (SDR模式) / 88 (HDR模式) dB
辐照寿命 20000 Gy
X-ray能量范围 25-450 (适配相应的闪烁体) kV
MTF@1lp/mm/2lp/mm 71% / 46%
DQE(0)@1uGy(RQA5) 70%
数据接口 2.5G以太网 / 10G光纤
触发模式 内触发或外触发 (连续或脉冲)
输入电源 12 VDC
功耗@全幅面20fps 10 W
体积 (长×宽×高) 200 × 162 × 43 mm
重量 3.3 kg
量子效率曲线


联系我们
招聘信息
分享与关注
  • 电话:0512-55118685

  • 邮箱:sales@brigates.com

  • 地址:江苏省昆山市开发区创业路1588号象屿两岸贸易中心7号楼18-21层

Copyright © 2025  锐芯微电子股份有限公司 版权所有 网站建设 备案号:苏ICP备14001771号-1

隐私政策 | 法律声明