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proX1512
proX1512 CMOS平板探测器可以在全分辨率下提供高速、低剂量成像。成像区域最大115.2×146mmmm,像素大小96μm,在全分辨率下可以提供最高80fps图像输出。proX1512C拥有高灵敏度及高动态范围两种模式,适合不同应用环境下的各种应用。配备千兆以太网接口,可以降低系统成本,方便系统集成。 产品特点: proX1512 CMOS平板探测器,高速、低剂量成像, 采用独特的抗辐照技术,辐照寿命高达20000Gy。
所属分类:
X射线CMOS平板探测器
产品参数
最大感光面积 | 115.20 × 145.92mm | 体积 | 200 × 162 × 43 mm |
像素面积 | 96 × 96 μm | 图像残影 | <0.1% |
分辨率 | 1200 × 1520 pixels | 数据接口 | 千兆以太网/2.5G以太网 |
饱和剂量(RQA5) | 2.5 uGy | 触发模式 | 內触发或外触发(连续或脉冲) |
辐照寿命 | 20000 Gy | 供电电源 | 12 VDC |
动态范围 | 74 dB | 功耗 | 12 W |
DQE(0)@ 1 uGy(RQA5) | 70% | 重量 | 3.3 kg |
DQE(0)@ 10 nGy(RQA5) | 68% | 防水等级 | IP40 |
MTF@ 1lp/mm(RQA5) | 60% | X射线能量范围 | 25-450 kV(适配相应的闪烁体) |
帧率 | 30 fps@全分辨率(千兆以太网)/80 fps@全分辨率(2.5G以太网) |
外形尺寸:(单位mm)
文档下载
ProX1512C.pdf
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