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proX1512

proX1512 CMOS平板探测器可以在全分辨率下提供高速、低剂量成像。成像区域最大115.2×146mmmm,像素大小96μm,在全分辨率下可以提供最高80fps图像输出。proX1512C拥有高灵敏度及高动态范围两种模式,适合不同应用环境下的各种应用。配备千兆以太网接口,可以降低系统成本,方便系统集成。 产品特点: proX1512 CMOS平板探测器,高速、低剂量成像, 采用独特的抗辐照技术,辐照寿命高达20000Gy。

所属分类:

X射线CMOS平板探测器


产品参数

最大感光面积 115.20 × 145.92mm 体积 200 × 162 × 43 mm
像素面积 96 × 96 μm 图像残影 <0.1%
分辨率 1200 × 1520 pixels 数据接口 千兆以太网/2.5G以太网
饱和剂量(RQA5) 2.5 uGy 触发模式 內触发或外触发(连续或脉冲)
辐照寿命 20000 Gy 供电电源 12 VDC
动态范围 74 dB 功耗 12 W
DQE(0)@ 1 uGy(RQA5) 70% 重量 3.3 kg
DQE(0)@ 10 nGy(RQA5) 68% 防水等级 IP40
MTF@ 1lp/mm(RQA5) 60% X射线能量范围 25-450 kV(适配相应的闪烁体)
帧率 30 fps@全分辨率(千兆以太网)/80 fps@全分辨率(2.5G以太网)    

 

外形尺寸:(单位mm)

1

 

 

文档下载

ProX1512C.pdf

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