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supX1512
产品特点: 用于X射线成像,高DQE及MTF,像素大小48um 采用独特的抗辐照技术,辐照寿命高达20000Gy supX1512是二维CMOS X射线平板探测器。具有高分辨率、宽动态范围低噪声和精细像素等优点。产品结构紧凑,技术性能优良,易于集成,能适应不同的工作环境。在全分辨率下可以提供最高12fps的数据输出。
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产品参数
像素尺寸:
48×48 μm
有效分辨率:
2400×3040 pixels
感光面积:
115.2×146 mm
最大帧率:
12 fps
数据接口:
千兆/万兆以太网
最大感光面积 115.2×146 mm MTF@1 lp/mm / 2 lp/mm 71%/46%
像素面积 48×48 μm DQE(0)@1uGy(RQA5) 70%
分辨率 2400×3040 pixels 数据接口 2.5G以太网/10G光纤
像素合并 1×1 2×2 触发模式 内触发或外触发(连续或脉冲)
帧率 12 fps ROI读出 中心100%/70%/50% MAG模式
动态范围 74dB(线性模式)/88dB(HDR模式) 输入电源 12 VDC
X射线能量范围 25-450(适配相应的闪烁体) kV 体积(长x宽x高) 200×162×43 mm
抗辐照 20000 Gy 功耗@全幅面20fps 10 W
数据量化位宽 14 bit 重量 3 kg

 

外形尺寸:(单位mm)

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